智能手機芯片處理器檢驗高溫冷熱沖擊試驗箱

簡要描述：

智能手機芯片處理器檢驗高溫冷熱沖擊試驗箱是發聲器芯片品質檢驗儀是質量監測機用來測試材料結構或產品在瞬間經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度，籍以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適用的對象包括鋰電池、金屬、塑料、橡膠、電子......等材料，可作為產品改進的依據或參考

更新時間：2021-03-09

型號：ZLHS-234-LV廠商性質：生產廠家瀏覽量：868

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冷熱沖擊試驗箱用來測試材料結構或產品在瞬間經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度，籍以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適用的對象包括鋰電池、金屬、塑料、橡膠、電子......等材料，可作為產品改進的依據或參考

適用范圍：

1.電子零件，IC的高低溫沖擊試驗；

2.電路板，模塊的高低溫沖擊；

3.主要用于電工電子，汽車，航空航空，軍工等行業；

4.工業企業實驗室，科研院所，高等學校，檢測認證機構是我們的常客；

智能手機芯片處理器檢驗高溫冷熱沖擊試驗箱

1.能出示高低溫試驗突然變化的實驗自然環境，供商品實驗用；

2.兩相式，樣品挪動；

3.沖擊性方法：二溫挑選；

4.選用本企業，加倍出示致冷高效率，尤其節約電磁能；

5.顯示屏彩色顯示運作情況，人機對換，中英挑選；

6.大空間程序設定，強勁數據庫管理作用；

智能手機芯片處理器檢驗高溫冷熱沖擊試驗箱

型號(CM)		ZLHS-100-LV	ZLHS-234-LV	ZLHS-512-LV	ZLHS-1000-LV
工作室尺寸		454550	606060	808080	100100100
外型尺寸		15687159.5	171102184.5	191122226.5	211142266.5
提藍尺寸		252525	404040	606050	929250
功率(-40℃)		15(KW)	17(KW)	21(KW)	24(KW)
性能指標	沖擊范圍	A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃ C:-65℃～150℃
	溫度誤差	高溫室及低溫室均±3℃
	溫度波動	高溫室及低溫室均±2℃/±0.5℃（恒溫時）
	樣品架承重	30kg	30kg	50kg	60kg
控制系統	控制器	日本優易控
	精度范圍	設定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
	制冷系統	德國進口谷輪半封閉水冷式壓縮機組/法國原裝“泰康”全封閉風冷復迭壓縮制冷
	循環系統	耐溫低噪音空調型電機.多葉式離心風輪
溫度轉換時間		≤15S
溫度恢復時間		≤5min
溫度沖擊方法		垂直兩箱法/垂直三箱法

公司主營產品：冷熱沖擊試驗箱、恒濕恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、步入式溫濕交變試驗室、高低溫濕熱交變試驗機、高溫老化房、快速溫變試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、PCT高壓加速老化試驗箱、紫外線耐候老化試驗箱、氙燈耐候老化試驗箱、耐寒折彎試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、臭氧老化試驗箱、換氣老化試驗箱、恒溫鼓風干燥試驗箱、太陽光伏組件試驗箱、振動試驗機、跌落試驗箱、拉力試驗機等可靠性試驗設備以及定做非標機型。

歡迎咨詢！

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